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E32-M21种类:特殊光束型;区域检测,
特长:多点检测(4探头),
形状/检测距离(mm):750;610;350(140) ,
弯曲半径(mm):R25。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:φ2(φ0.1),
满足多样化需求的光纤单元
元
产品简介:
E32-T24种类:标准型;标准,
特长:φ1圆柱(小型)侧视,
形状/检测距离(mm):160;130;75(30) ,
弯曲半径(mm):R10。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:φ1(φ0.0005),
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-T25Z种类:标准型;标准,
特长:平面形状(小型)平视,
形状/检测距离(mm):160;130;75(30) ,
弯曲半径(mm):R10。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:φ1(φ0.0005),
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-DC200E种类:标准型;标准,
特长:M3螺钉(小型),
弯曲半径(mm):R10。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:(φ0.005),
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-D73种类:耐环境型;耐热,
特长:耐热:400℃;带套管,
弯曲半径(mm):R25。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:(φ0.005),
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-T22S种类:特殊光束型;细径光束,
特长:φ3圆柱,
形状/检测距离(mm):2500;1900;1250(500) ,
弯曲半径(mm):R10。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:φ1.7(φ0.1)),
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-T16W种类:特殊光束型;区域检测,
特长:区域宽度30mm,
形状/检测距离(mm):2300;1800;1150(450) ,
弯曲半径(mm):R10。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:(φ0.3)3,
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-T14L种类:标准型;标准,
特长:φ3圆柱侧视,
形状/检测距离(mm):600;460;300(120) ,
弯曲半径(mm):R25。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:φ1(φ0.005),
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-A03种类:特殊光束型;晶圆片映射,
特长:开口角1.5°调整光轴后出厂,
弯曲半径(mm):R1。
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-T12F种类:耐环境型;耐药品,
特长:特氟龙涂层长距离,
形状/检测距离(mm):4000 ;3000;2000(800) ,
弯曲半径(mm):R40。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:φ4(φ0.1),
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-D25ZR种类:标准型;柔软(新标准),
特长:平面形状(小型)平视,
弯曲半径(mm):R;R1。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:(φ0.005),
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-S15-1光纤单元采用欧姆龙独创的偏光多层膜技术(FAO)
可不受工件的色差影响,对细微的光泽
进行稳定地检测
产品简介:
E32-C41种类:特殊光束型;同轴/小光点,
特长:长距离微小光点,
弯曲半径(mm):R25。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:(φ0.005),
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-D12种类:标准型;标准,
特长:φ3圆柱,
弯曲半径(mm):R25。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:(φ0.005),
满足多样化需求的光纤单元
产品简介:
E32-L25种类:特殊光束型;限定反射,
特长:微小段差;高功能;侧视,
弯曲半径(mm):R25。
标准检测物体(小检测物体)(mm) 1:(φ0.005),
满足多样化需求的光纤单元