微小光点，适合微小物体和 标记的检测 适合检测微小物体与细微的色差。 接缝检测。 200μ的极线检测。

检测方式:对射型. 检测距离:100mm. 用途：侧视式， 小型;薄型探头省空间 带有能紧密安装的干扰防止功能

E3F3-D66 检测方式：扩散反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：塑料外表；NPN输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D62M检测方式：扩散反射型， 导线引出式：导线引出式， 类型：金属外表；NPN输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-R36M检测方式：回归反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：金属外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D32M检测方式：扩散反射型， 导线引出式：导线引出式， 类型：金属外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

检测方式:扩散反射型. 检测距离:100mm. 用途：侧视式， 小型;薄型探头省空间 带有能紧密安装的干扰防止功能

E3F3-R81 检测方式：回归反射型， 导线引出式：导线引出式， 类型：塑料外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-R37 检测方式：回归反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：塑料外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-R36 检测方式：回归反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：塑料外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D86M检测方式：扩散反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：金属外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D81 检测方式：扩散反射型， 导线引出式：导线引出式， 类型：塑料外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-R37M检测方式：回归反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：金属外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

检测方式:对射型. 检测距离:100mm. 用途：小型， 小型;薄型探头省空间 带有能紧密安装的干扰防止功能

检测方式:对射型. 检测距离:1m. 用途：小型， 小型;薄型探头省空间 带有能紧密安装的干扰防止功能

检测方式：反射型（检测标识用）， 连接方式：导线引出式， 检测距离：30正负5mm， 传感器部 微小光点，适合微小物体和 标记的检测

E3F3-R31 检测方式：回归反射型， 导线引出式：导线引出式， 类型：塑料外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-R87 检测方式：回归反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：塑料外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-R32 检测方式：回归反射型， 导线引出式：导线引出式， 类型：塑料外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D17M检测方式：扩散反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：金属外表；NPN输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性