检测方式:对射型. 检测距离:200mm. 用途：细长型， 小型;薄型探头省空间 带有能紧密安装的干扰防止功能

检测方式:对射型. 检测距离:100mm. 用途：侧视式， 小型;薄型探头省空间 带有能紧密安装的干扰防止功能

检测方式:对射型. 检测距离:300mm. 用途：细长型， 小型;薄型探头省空间 带有能紧密安装的干扰防止功能

检测方式:对射型. 检测距离:500mm. 用途：小型， 小型;薄型探头省空间 带有能紧密安装的干扰防止功能

检测方式：反射型（检测标识用）， 连接方式：导线引出式， 检测距离：35正负5mm， 传感器部 微小光点，适合微小物体和 标记的检测

检测方式：反射型（检测标识用）， 连接方式：导线引出式， 检测距离：10正负2mm， 传感器部 微小光点，适合微小物体和 标记的检测

检测方式：反射型（检测标识用）， 连接方式：导线引出式， 检测距离：30正负5mm， 传感器部 微小光点，适合微小物体和 标记的检测

检测方式：反射型（检测标识用）， 连接方式：导线引出式， 检测距离：70正负10mm， 传感器部 微小光点，适合微小物体和 标记的检测

微小光点，适合微小物体和 标记的检测 适合检测微小物体与细微的色差。 接缝检测。 200μ的极线检测。

电源:DC. 用途:表面端子型. 放大器单元

电源:DC. 用途:表面端子型. 放大器单元

E3F3-D11 检测方式：扩散反射型， 导线引出式：导线引出式， 类型：塑料外表；NPN输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D11M检测方式：扩散反射型， 导线引出式：导线引出式， 类型：金属外表；NPN输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D12 检测方式：扩散反射型， 导线引出式：导线引出式， 类型：塑料外表；NPN输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D12M检测方式：扩散反射型， 导线引出式：导线引出式， 类型：金属外表；NPN输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D16 检测方式：扩散反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：塑料外表；NPN输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D16M检测方式：扩散反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：金属外表；NPN输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D17 检测方式：扩散反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：塑料外表；NPN输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D17M检测方式：扩散反射型， 导线引出式：M12 CN， 类型：金属外表；NPN输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性

E3F3-D31 检测方式：扩散反射型， 导线引出式：导线引出式， 类型：塑料外表；PNP输出， 螺纹柱状光电传感器，放大器内置， 具备接近传感器外观的光电传感器 具有光电-IC技术的高抗干扰性